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低电阻测量面临的问题在于测试夹具与待测实物电阻之间的连接性。四线式连接方法在低电阻测量中的普遍应用由原理上消除了引线电阻以及夹具与待测电阻之间的接触电阻对测量误差的贡献。

   然而，即便如此，四线式连接仍然无法解决无处不在的接触热电动势问题。接触热电动势存在于相互接触的两种不同材料的导体之间，并随二者温差增大而愈发显著。接触热电动势与相互接触的两导体的材料有关，通常具有1uV/C量级的温度系数，即温差每增大1C，接触热电动势约提高1uV。

   低电阻测量属于低电压测量，通常位于1mV或10mV量级，因此对接触热电动势具有很高的度。除非在恒温条件下等待足够长的时间使夹具与被测电阻的接触点两侧达到相同的温度，否则接触热电动势将必然呈现显著的误差而影响测量准确度。另一方面，接触面的氧化将改变接触面两侧的材料性质，并导致接触热电动势的温度系数呈量级增大，其引发的问题在于，即使温差很小，接触热电动势也将明显影响测量准确度。

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